影响涂层测厚仪测量值度的因素

涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

影响涂层测厚仪测量值度的因素

影响因素的有关说明

a 基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器行校准;亦可用待涂覆试件行校准。

b 基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器行校准。

c 基体金属厚度

每种仪器都有个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

d 边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处行测量是不可靠的。

e 曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

f 试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

g 表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

g 磁场

周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚作。

h 附着物质

本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

i 测头压力

测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

j 测头的取向

测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。

使用仪器时应当遵守的规定

a 基体金属性

对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。 对于涡方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

b 基体金属厚度

检查基体金属厚度是否过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法行校准。

c 边缘效应

不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处行测量。

d 曲率

不应在试件的弯曲表面上测量。

e 读数次数

通常由于仪器的每次读数并不相同，因此在每测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局差异，也要求在给定的面积内行多次测量，表面粗时更应如此。

f 表面清洁度

测量前，应清除表面上的何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去何覆盖层物质

涂层测厚仪中F，N以及FN的区别:

F代表ferrous 铁磁性基体，F型的涂层测厚仪采用电磁感应原理， 来测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。

N代表Non- ferrous非铁磁性基体，N型的涂层测厚仪采用电涡原理;来测量用涡传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。

FN型的涂层测厚仪既采用电磁感应原理，又采用采用电涡原理，是F型和N型的二合型涂层测厚仪。