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电容电压特性测试仪

更新时间:2023-08-16

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厂商性质:生产厂家

生产地址:北京美华仪科技有限公司

简要描述:
MHY-29375电容电压特性测试仪引言

MHY-29375型电容电压(C-V)特性测试仪是测试频率为1MHz的数字式电容测试仪器。用于测量半导体器件PN结势垒在不同偏压下的电容量,也可测试其它电容。
品牌其他品牌产地类别国产
应用领域环保,化工,电子,汽车,电气

电容电压特性测试仪  型号:MHY-29375

 

MHY-29375电容电压特性测试仪引言

MHY-29375型电容电压(C-V)特性测试仪是测试频率为1MHz的数字式电容测试仪器。用于测量半导体器件PN结势垒在不同偏压下的电容量,也可测试其它电容。

仪器有较高的分辨率,电容量是四位读数,可分辨到0.001pF,偏置电压分辨率为0.01V,漏电流分辨率为0.01μA0.1μA(可选)。

该测试仪器性能稳定可靠,适用于元件生产厂家,科研部门,高等院校等单位。

2. 原理

CV法利用PN结或肖特基势垒在反向偏压时的电容特性,可以获得材料中杂质浓度及其分布的信息,这类测量成为C-V测量技术。这种测量可以提供材料横截面均匀性及纵向杂质浓度的分布信息。

组成半导体器件的基本结构的PN结具有电容效应(势垒电容),加正向偏压时,PN结势垒区变窄,势垒电容变大;加反向偏压时,PN结势垒区变宽,势垒电容变小。

该仪器采用电流电压测量方法,它用微处理器通过8 次电压测量来计算每次测量后要求的参数值。用一个相敏检波器和模数转换器顺序快速完成电压测量。正交测量通过交换测量信号的相位来进行,而不是参考相位检测。因而不需要精密的模拟相位转换成电压矩形波电路。通过从同一个高频信号源形成测试信号和参考信号,来保证正确的相位关系。由微处理器根据已知的频率和测试信号相位,用ROM 存储器内的程序和所存储的按键选择来控制测量顺序,以及存储在RAM 中的校准数据来计算被测元件数值。

 MHY-29375技术参数

3.1. 测试信号频率:1.000MHz±0.01%

3.2. 测试信号电压:≤100mVrms

3.3. 测量速率:慢3/秒,快5/

3.4. 测量范围:

电容C0.001-10000 pF

漏电流:0.01-19.99μA

3.5. 直流偏压:仪器自带偏压0.01-35V,分辨率:0.01V;(可外接偏压源拓展,最大偏压输入为100V

3.6. 工作误差:±5.0%±2

3.7. 预热时间:30min

3.8. 供电电源:

交流电压:220V±10%,频率:50Hz±5%,消耗功率:≤40W

3.9. 工作环境

        温度:0-40℃, 湿度:≤65%


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