手持式四探针测试仪

手持式四探针测试仪/四探针测试仪 型号：MHY-14349

手持式四探针测试仪测量范围宽、度、稳定性好、结构紧凑、易操作的手持式；
体积仅为：185mm(长)*90mm(宽)*30mm()； 重量：350g；
使用锂电池供电，次充电可连续使用100小时；
   运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的，用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
   仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等点。如有需要可加配测试台使用。
   本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。
术  标 ：  

测量范围  电阻率：0.01～1999.9Ω.cm；  
方块电阻：0.1～19999Ω/□；

恒源  电量程分为100μA、1mA两档，两档电连续可调
数字电压表  量程及表示形式：000.00～199.99mV； 分辨力：10μV；  
输入阻抗：>1000MΩ； 度：±0.1%；  
显示：以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；性、量程自动显示；
四探针探头基本标  间距：1±0.01mm；  针间缘电阻：≥1000MΩ； 机械游移率：≤0.3%；
探针：碳化钨或速钢Ф0.5mm； 探针压力：5～16 牛顿(总力)；
四探针探头应用参数  (见探头附带的合格证)
模拟电阻测量相对误差
( 按JJG508-87行)  1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整机测量zui大相对误差 (用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试)≤±5%
整机测量标准不确定度  ≤5%
外型尺寸  185mm(长)*90mm(宽)*30mm()
重量  350g
电源  锂电池，次充电可连续使用100小时；
标准使用环境  温度：23±2℃； 相对湿度：≤65%； 无频干扰； 无强光直射