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超声波测厚仪

更新时间:2025-01-16

访问量:609

厂商性质:生产厂家

生产地址:北京美华仪科技有限公司

简要描述:
超声波测厚仪参数
显示方法∶128*32 LCD 中文点阵液晶显示(带背光)
显示位数:四位
测量范围:0.7-250mm
示值度:0.01mm
声速范围:1000-9999m/s
测量周期:2次/秒
数据存储:4000组
自动关机时间:90秒
电源:二节七号(AAA)电池,可连续作不少于72小时
使用温度:-10°C - 40°C
存储温度:-20°C - 70°
品牌其他品牌产地类别国产
应用领域环保,化工,建材/家具,电子/电池,汽车及零部件

1.              超声波测厚仪 MHY-26402        

超声波测厚仪参数
显示方法∶128*32 LCD 中文点阵液晶显示(带背光)
显示位数:四位
测量范围:0.7-250mm
示值度:0.01mm
声速范围:1000-9999m/s
测量周期:2次/秒
数据存储:4000组
自动关机时间:90秒
电源:二节七号(AAA)电池,可连续作不少于72小时
使用温度:-10°C - 40°C
存储温度:-20°C - 70°C
外形尺寸:108x61x25mm
重量:230g (含电池)




2.         可携式电动系低率因数瓦表 型号:MHY-12924

产品型号: MHY-12924 COSφ=0.2  
产品名称: 单相低率因数率表  
相关说明: 测量范围
额定电压:0-75-150-300-600V;

额定电:0-0.25-0.5A;0-0.5-1A;0-2.5-5A;0-5-10A

外形尺寸:210×152×90mm

度:0.5

点及用途:张丝结构,标尺长度为150 mm , 用于45-65HZ交电路中测量率。


3.          单路数显直稳压稳电源 型号:MHY-12919

主要能及点:
◆单路稳定度稳压稳输出
◆电压、电值同时数字显示
◆十圈电位器细调节输出电压
◆无触点电子开关控制电压输出
◆可对输出电压、电预置
◆有过压断电保护并可行预置
◆智能风扇自动调节风量
◆过热断电自动保护
◆允许长期在0℃-40℃温度下满负荷作
◆外取样输出可使远距离负载获得稳定度电压
◆可串联(电压相加)或并联(电相加)使用
◆可用外电压对本机的电压、电输出行远距离控制
◆可用外接电位器对本机的电压、电输出行远距离控制
◆ 通过A/D转换卡可用微机输出的电压、电程控
主要标:
■MHY-12919     0-35V / 0-30A

■源效应:CV 5×10-5+1mV     CV 5×10-5+10mA
■负载效应:CV 1×10-5+2mV    CV 5×10-5+10mA


■纹波与噪声:CV 1mV(rms)      CC 20mA(rms)


■体积与重量:  600×275×185(7、7A型)    35Kg


4.           剩余电保护器/漏电保护器 型号:MHY-12918

卡通剩余电保护器 型号:MHY-12918


主要参数
辅助电源:                   50Hz  220V
配接开关:                 交接触器等
动作电:             0.1/0.3/0.5/1.0A
动作时间:                     0.3/0.5S
                 


5.             半导体电阻率测试仪/四探针电阻率测试仪 型号:MHY-12956

MHY-12956型半导体电阻率测试仪是用于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,测定范围:0.01-199.99欧姆厘米,是厂家硅料分选测试的理想具。

1、 主要标:

电源:220V交

可测晶片直径(zui大)Ф100mm,方形230×220mm

恒源:电量程为0.01~1mA连续可调,误差≦±0.5%。

数字电压表:量程:0.1~200mV,zui大分辨率:100μV

电阻率显示:三位半数字显示:小数点、性、过载、自动显示0.01-199.99欧姆。厘米

输入抗阻:0.2mV和2mV量程:>108Ω

测量度:±0.1。

zui大电阻测量误差(按JJG508-87行):0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%读数±2个字。

重掺检测误差(JJG508-87行):1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%

测量环境:温度23±2℃,相对湿度≤65%

2、操作程序:

1、连好电源,打开后面板电源开关,电源示灯亮,表示待机毕。

2、校准设备:厚度小于3.98mm取与要备测试硅材料厚度相同的硅材料标准样块校准电阻率测试仪,测试厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的标准样块校准电阻率测试仪

3、测试:用四探针接触硅材料,以探针压下三分之二为准,待仪器显示数字稳定即可,

4校验:在测试过程中要求2小时用标准样块校准次设备,


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