半导体管性图示仪

半导体管性图示仪  MHY-18163

半导体管性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电扫描电路，可以对被测半导体器件的司长行对比分析，便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输性；可对场效应管行配对或对管测试；可测试三端稳压管性。 
集电扫描信号 
输出电压范围及电容量 
0～5V 10A（4810A） 0～10V 5A 
0～50V 1A 0～100V 0.5A 
0～500V 0.1A     
基阶梯信号 
阶梯电 0.2μA/～50mA/，分17档(XJ4810) 
  0.2μA/～100mA/，分18档(XJ4810A) 
阶梯电压 0.05V～1V/，分5档(XJ4810) 
  0.1V～2V/，分5档(XJ4810A) 
Y轴偏转系数 
集电电 10μA/div～0.5A/div，分15档(XJ4810) 
  10μA/div～1A/div，分16档(XJ4810A) 
二管电 0.2μA/div～5μA/div，分5档 
倍率 ×0.1 
X轴偏转系数 
集电电压 0.05V/div～50V/div，分10档 
  0.05V/div～1V/div，分5档 
二族显示 
二簇曲线左右分列显示并可左右位移 
般性能 
适应电源 AC220V±10% 50Hz±4% 
视在率 约50VA（非测试状态） 
  约80VA(zui大率) 
外形尺寸 320B×220H×400Dmm 
重量 17kg